SPEAG发布TDS SNI, EMC扫描的新产品

SPEAG很荣幸的宣布,在我们TDS产品系列中最新推出-TDS SNI探头。在TDS SNI中,开发出利用光子进行准确追溯RF部分的EMC/EMI扫描应用,尖端隔离度高的电磁场探棒量测到的数据可在频谱分析仪清晰显示。

主动光子TDS技术: 通过TDS主动式光子感测技术, TDS SNI为第一个完全为了RF-EM所开发出量测EMI/EMC的进场量测探棒,绝对不影响待测物电磁场分布,并保留所有相位振幅讯号。
手持设备: TDS SNI推出小尺寸格式,非常适合EMC扫描和故障排除。
超宽带: TDS SNI提供 10MHz 到 10 GHz的频率范围。
高解析度: TDS SNI提供毫米的解析度准确分析干扰源。
高灵敏度,高动态范围: TDS SNI能夠量測到的訊號低到對環境的GPS和高至無線充電的種種應用。
溯源校准: TDS是第一的EMC/EMI近场量测系统,提供ISO17025认证的实验室校准,可以对量测数据完全信任。

我们利用新型TDS SNI电场探棒提供近场EMC扫描的讯号完整性。

这些特点使得SPEAG的TDS SNI在EMI/EMC近场扫描探棒有广泛的应用如:

信号完整性量测,如LTE，WLAN（的802.11a / b/ g / n的），蓝牙（802.15.1），ZigBee的（802.15.4），UWB（802.15.3）的WiMAX（802.16）等现代通讯系统
EMC/ EMI/ ESD近场量测根据IEC 60601，EN55011，CISPR25，ISO11452等定量量测和一致性符合EMC认证支持
在高度集成,EM复杂的环境中,可以非常精确的量测带测物的电磁场分布情况
可以在严格的EM环境进行射频电场和磁场测量，像是MRI, EMP场等。
在非常接近的近场辐射進行全复数值的向量场测量